植物冠層分析儀如何測量葉面積指數

產品型號： Airphen

所屬分類：機載型植物冠層分析儀

更新時間：2018-07-04

簡要描述：植物冠層分析儀如何測量葉面積指數，測量原理基于貝爾定律，結合Norman和Campbell線性小二乘理論?；Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數包括：太陽天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數，計算出冠層的有效LAI，結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽方位角即太陽所在的方位，指太陽光線在地平面上的投影與當地子午線的夾角。

聯系我們 在線咨詢

植物冠層分析儀如何測量葉面積指數

    測量時根據果園的大小。分別設置3-5個測量點，在每個測量點再分別用方框取樣法和冠層分析法測量葉面積指數。方框取樣法是將方框隨機放在樹冠上，將方框內的的葉片全部摘下，用葉面積儀測量框內的葉面積，然后根據樹冠體積和栽植密度計算葉面積指數。測點的選擇與冠層分析儀方法相同。冠層分析儀是分別對應測量天空5個范圍的散射輻射，這5個范圍的中心視天頂角分別為7°、23°、38°、53°和68°，分別與冠層上部和下部測量輻射通透密度，并根據轉換模型估算葉面積指數。在每一個測點的冠層頂部測一次，下部重復測量6-10次，冠層下方的測量在同一水平面上，且在無直接輻射的條件下進行。為了避免光環境迅速的變化對測量結果的影響，選擇無直接輻射的條件下進行，然后用冠層分析儀附帶的軟件對測量的資料進一步加工以校正估值葉面積指數。

植物冠層分析儀特點

    *兩輪設計便于野外快速、輕松獲取數據

    用戶友好接口、適合大區實驗

    多角度測量降低直接光照影響

    GPS和羅盤精確定位測量

植物冠層分析儀優勢

    1、Airphen植物冠層分析儀配有6個波段：450-900nm（450nm，530nm，570nm，675nm，730nm，850nm），可測量多達幾十種植被指數；采用雙視場角設計，極大提升了科研調查效率，而上其他品牌的產品不具備雙視場角，調查效率是很有限的。

    2、Airphen植物冠層分析儀具有的強大的散熱系統能保證產品在運行過程中的穩定性，而其他品牌不具備強大的散熱系統，所以其產品的運行穩定性是有待考量的。

    3、Airphen植物冠層分析儀專門針對大疆無人機開發了云臺，可保護相機系統的安全使用以及減少相機拍攝的晃動。

    4、Airphen植物冠層分析儀可集成同步RGB相機和熱成像相機，解決了紅外成像無法精確定位的難題，所獲得數據可用于數字高程等系列研究，應用于近地遙感地理勘測、環境調查、農業表型、精準農業、生態研究等領域。

    5、針對Airphen植物冠層分析儀系統在Agisoft的基礎上開發了的圖像處理插件，使后期的圖像處理更加簡單化，其他品牌是不具備的。

    6、通過連接手機進入控制客戶端，操作簡單方便，后期的圖像數據處理在云端處理器完成，無須軟件操作就可得到想要的數據。

    7、我們的多光譜相機配套的參考板材質不怕磨損，不屬于易損耗品，而其他品牌的參考板均屬于易耗品，增加了后期使用過程中的成本。

植物冠層分析儀介紹

    植物冠層分析儀就是屬于光學法的，特點是攜帶方便，不需要進行額外的資料處理，可以直接給出葉面積指數值，原理是在假定植物冠層內的各元素隨機分布，依據冠層間隙度或光學特性反演葉面積指數。缺點是測量所得葉面積指數有著較大的偏差。葉片的聚集效應越強，偏差越大。因此在測量時，一般需要用直接法校正。